Développement d'un système de métrologie des semi-conducteurs par microscope à force atomique
Développement d'un système de métrologie des semi-conducteurs par microscope à force atomique
Projet
Le projet vise à développer un outil d’inspection pour la fabrication de semi-conducteurs. L’inspection des dispositifs semi-conducteurs (micro-puces) est une étape de plus en plus importante du processus de fabrication des semi-conducteurs. L’objectif de l’inspection est de détecter les défauts : un seul défaut de 1 nanomètre (un milliard de fois plus petit qu’un mètre) peut provoquer la défaillance d’une puce entière. Détecter les défauts peut accélérer le temps de mise sur le marché des nouveaux produits, réduire les déchets et augmenter l’approvisionnement en puces. Ce projet vise à créer un outil de classe mondiale utilisant une technologie unique de microscopie à force atomique miniaturisée pour détecter des défauts extrêmement petits à des vitesses 100 fois plus rapides que l’état de l’art.
« La technologie unique de microAFM d’icspi révolutionnera la fabrication de puces de pointe à l’échelle mondiale et garantira qu’une entreprise canadienne et une technologie développée localement soient à l’avant-garde de l’industrie des semi-conducteurs. »
— ICSPI
ICSPI Corp.
ICSPI conçoit et fabrique des outils de mesure révolutionnaires à l’échelle atomique appelés microscopes à force atomique, en utilisant une technologie microAFM unique et brevetée. Les systèmes AFM de bureau d’ICSPI ont redéfini les attentes en matière d’imagerie à l’échelle atomique et sont utilisés par des chercheurs et des ingénieurs dans plus de 40 pays pour la R&D et le contrôle qualité. ICSPI développe également des solutions de mesure de nouvelle génération pour l’industrie des semi-conducteurs grâce à sa technologie microAFM parallèle. L’entreprise est basée à Kitchener-Waterloo, en Ontario.
Mesures du projet
« Le financement FABrIC accélère la commercialisation de notre produit en nous permettant d’embaucher davantage d’ingénieurs et d’investir dans des équipements de prototypage essentiels. Grâce au soutien de FABrIC, nous prévoyons de raccourcir notre calendrier de développement et d’interagir plus tôt avec les clients pour valider notre solution. »
— ICSPI
ICSPI Corp.
Développement d'un système de métrologie des semi-conducteurs par microscope à force atomique
Industrie(s) ciblée(s) :
Fabrication avancée
Développement de produits
Premier tour
Ontario, Waterloo
623 000 $
